一、 雙側公差情況的過程能力指數

1﹑對於側公差能情況，過程能力指數 CP 的定義如下：

CP計算公式

T 為技術公差的幅度， u t ﹑ L t 分別為上﹑下公差限，σ為質量特性值分佈的總體標準差。

1.1 當σ未知時， 可用σ=R（bar）/d2 或σ=S（bar）/C4 估計，其中 R 為樣本的極差，R（bar）為平均數，S 為樣本的標準 差，S（bar）為平均數；D2、C4 為修正系數，可根據樣本組的個數查表獲得。

(註意: 估計值必須在穩定的狀態下進行，在 GB/T4091-2001《常規控制圖》中有明確的規定)

1.2 當 CP=2、σ=0·5 時，P=2ppm=2× 9 10= 。事實上，從 CP=1，σ=1 時，可以得出 CP=1=T/6σ，即 T=6，於 是σ-1/CP。故對於 CP=2，σ=1/2=0·5，也就是說能力指數與不合格率是一一對應的。

二、單側公差情況的能力指數

1、 若隻有上限要求時，而對下限沒有要求時，則過程能力指數計算如下：

Cpu計算公式

CPU為上單側過程能力指數，當μ≥TU 時，記作 CPU=0 上限要求。

2、 若隻有下限要求時，而對上限沒有要求時，則過程能力指數計算如下；

Cpl計算公式

CPL為下單側過程能力指數，當μ≤TL 時，記作 CPL=0 下限要求

上面二例中的μ與σ未知時，可用樣本估計，例如用 X（bar）估計μ，用 S 估計σ。

三、有偏移情況的過程能力指數

當產品質量特性分佈的均值μ與公差中心Μ不重合，即有偏移時，不合格率必然回增大，CP 值降低，當 過程能力指數不能反映有偏移的實際情況，需要加以修正，記修正後的過程能力指數為 CPK，則計算公式為：

CPK計算公式

記作分佈中心μ對於公差中心 M 的偏移為ε=|M-μ|，定義μ與 M 的相對偏移（偏移度）K 為：

K的計算公式

則過程能力指數修正為：

Cpk計算公式(修正)

這樣，當μ=M（即分佈中心與公差中心重合無偏移）時，K=0，CPK=CP，註意 CPK 也必須是在穩定狀態下求得。